成果介绍
在异质外延过程中,高效并低成本地制备高质量氮化铝(AlN)薄膜是开发深紫外发光二极管(DUV-LED)的关键。
有鉴于此,近日,中科院半导体所魏同波研究员和北京大学高鹏教授(共同通讯作者)等合作在石墨烯(Gr)上实现了具有低应变和低位错密度的高质量AlN薄膜的准2D生长,并展示了高性能272 nm DUV-LED。在第一性原理计算的指导下,发现在Gr上生长的AlN在能量和动力学上都倾向于侧向生长,从而导致了Gr驱动的准2D生长模式。强大的横向生长模式使大多数位错能够在AlN/Gr的界面上相互消除,因此AlN外延层可以快速融合并平坦化纳米图案化的蓝宝石衬底。基于AlN薄膜的高质量和低应变,由于在大电流下的波长漂移可忽略不计,与低温AlN缓冲层相比,制成的272 nm DUV-LED的输出功率提高了22%。
这种简便的策略为大幅提高DUV LED的性能开辟了新道路。
图文导读

图1. AlN在Al2O3和Gr上生长的第一性原理计算和示意图。

图2. 裸露和Gr覆盖的NPSSs的SEM、拉曼光谱和光学透射光谱分析。

图3. 用不同缓冲层生长的AlN薄膜的SEM表征和示意图。

图4. 在具有不同缓冲层的NPSSs上生长的AlN薄膜的横截面TEM和拉曼光谱表征。

图5. DUV-LED的EL和FDTD模拟表征。
文献信息
Quasi‐2D Growth of Aluminum Nitride Film on Graphene for Boosting Deep Ultraviolet Light‐Emitting Diodes
(Adv. Sci., 2020, DOI:10.1002/advs.202001272)
文献链接:https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/advs.202001272
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