金刚石表面“长出”石墨烯,共价键合异质结实现新突破

近期,德国锡根大学姜辛教授与齐鲁工业大学盖志刚研究员共同通讯,报道了一种利用热电子辐照在金刚石(111)面上制备共价键合石墨烯(0002)/金刚石(111)异质结的策略。与透射电镜中keV级聚焦电子束不同,该方法采用热灯丝发射的低能热电子,在低压氢气氛围下经正偏压加速射向金刚石衬底,提供大面积、均匀的近表面能量输入与可控热场。

硅基半导体正逼近由基础物理决定的性能极限,寻找替代材料日益迫切。金刚石凭借宽带隙、高热导率与化学惰性,成为量子计算、纳米传感与先进电子学的有力候选,但其n型掺杂困难、重硼掺杂会导致晶格畸变、晶界与缺陷散射也限制了器件性能。石墨烯则具有高载流子迁移率与可调电子特性,二者结合构建的石墨烯/金刚石(G/D)异质结,可将石墨烯的零带隙狄拉克锥与金刚石的超宽带隙结合,实现界面电荷再分布、调控费米能级,并有望克服石墨烯“狄拉克点电子态缺失”的局限。

其中,石墨烯二维面平行于金刚石表面的type-P构型最利于与标准芯片架构集成,但目前多数G/D结采用垂直的type-V构型(石墨烯面垂直于金刚石),高质量、强键合的type-P异质结长期难以实现。金刚石(111)面与石墨烯(0002)面晶格匹配良好(C—C键长差<2%,1.45 Å对1.42 Å),为直接转变提供了可能;然而层转移法界面键合弱、工艺繁琐,真空退火会产生小尺寸、无序分布的少层石墨烯,激光石墨化又易造成局部烧蚀与缺陷累积。迄今,共价键合的type-P G/D异质结尚无报道。

近期,德国锡根大学姜辛教授与齐鲁工业大学盖志刚研究员共同通讯,报道了一种利用热电子辐照在金刚石(111)面上制备共价键合石墨烯(0002)/金刚石(111)异质结的策略。与透射电镜中keV级聚焦电子束不同,该方法采用热灯丝发射的低能热电子,在低压氢气氛围下经正偏压加速射向金刚石衬底,提供大面积、均匀的近表面能量输入与可控热场。

通过将表面温度控制在C—C共价键断裂阈值以下,抑制表层直接石墨化(即type-V结构),从而在表层下方形成二维活性层,驱动金刚石(111)向石墨烯(0002)的面内转变,最终获得完全覆盖金刚石(111)面、界面共价键合的高质量type-P异质结。结合结构表征与理论计算,作者阐明了该结的形成机制与能带特性,并提出六方金刚石(lonsdaleite)作为中间态,在转变为石墨烯层之前起关键作用。该异质结在当前测试构型下展现出高压阻响应,应变因子(GF)达 −1149。这一性能主要源于两方面:一是异质结在金刚石表面诱导形成的富电子层;二是应力显著提升了金刚石层内碳C 2p轨道的态密度。

金刚石表面“长出”石墨烯,共价键合异质结实现新突破

图1 G/D异质结的制备与表面结构表征。(A)热电子辐照制备type-P G/D异质结示意图;(B)不同G/D异质结的拉曼光谱,均出现金刚石sp³峰(~1332 cm⁻¹)以及石墨烯G(1580 cm⁻¹)、2D(2700 cm⁻¹)峰;(C–E)type-V结构的光学显微、SEM与AFM图像;(F–H)type-P结构的相应图像。type-P表面明显更平整,粗糙度Sa仅约0.72 nm,接近本征单晶金刚石(0.65 nm),而type-V高达21.16 nm。

金刚石表面“长出”石墨烯,共价键合异质结实现新突破

图2 不同G/D异质结的TEM表征。(A)type-P结构截面TEM图,可分辨单晶金刚石、界面与石墨烯三个区域;(B–D)金刚石(蓝)、界面(黄)、石墨烯(红)区域的高分辨明场像,分别对应立方金刚石ABC堆垛(层间距2.06 Å)、六方金刚石A′B′A′堆垛(2.18 Å)与石墨烯ABA堆垛(3.5 Å);(E–G)对应的FFT衍射花样;(H,I)EELS表征区域的明场与暗场像;(J)各区域芯能级损失谱,展示碳键合从sp³(σ*峰292 eV、302 eV凹陷)到sp²(π*峰285 eV)的渐变;(K–N)type-V结构的相应表征,其相变仅发生在约1–2个原子层的极窄范围内。

金刚石表面“长出”石墨烯,共价键合异质结实现新突破

图3 G/D异质结的形成机制。(A)经金刚石表面相变形成G/D异质结的结构示意图;(B)不同结构中碳原子相对原子能的计算结果,能量沿“立方金刚石(CD)→CD/六方金刚石(HD)复合结构→G/D”依次降低,表明六方金刚石中间态降低了相变势垒、提升了转变效率。

金刚石表面“长出”石墨烯,共价键合异质结实现新突破

图4 压阻性能表征。(A)有限元分析得到的异质结应变与压力关系;(B)相对电阻变化(ΔR/R₀)随应变的变化及计算所得GF,type-P G/D异质结GF为 −1149;(C)本工作与文献中其他压阻材料的GF及量程对比;(D,E)28 N循环加载下的电阻变化与响应时间,加压与卸压响应分别约 33 ms 与 57 ms;(F)2%双轴拉伸应变下的晶体结构变化;(G)2%应变下的态密度变化;(H)石墨相与金刚石相中特定碳原子的局域态密度,插图为界面电荷密度差(绿、黄分别代表电荷耗尽与积累)。

作者在单晶金刚石(111)面上通过热电子辐照成功制备了共价键合的type-P G/D异质结,规避了层转移工艺的复杂性与潜在材料损伤,并显著增强了石墨烯与金刚石的界面键合强度。TEM–EELS证据表明界面存在sp²/sp³共价键合,DFT计算揭示了界面电荷再分布与应变诱导的态密度增强,与宏观测得的负电阻变化形成自洽的实验—理论关联。

凭借金刚石高硬度、耐腐蚀、环境稳定等本征特性,该异质结有望同时兼顾压阻材料“灵敏度—量程—稳定性”的三难权衡,其工作压力范围可达 0–112 MPa,在高温、抗辐射、宽量程、快响应等极端环境传感领域具有应用潜力。此外,共价键合的G/D界面还可能对界面热输运与金刚石基热管理具有启示意义。晶圆级工艺、器件级优化与器件间统计仍有待进一步研究。

原文:https://doi.org/10.1002/advs.76096

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