本期致真精密仪器测样案例，通过Atom Edge Pro多功能原子力显微镜对氧化石墨烯的表面形貌和厚度进行表征。
（a）致真精密仪器AFM对氧化石墨烯（GO）的形貌表征
(b) 对应于（a）图中红色剖面线的高度轮廓曲线
结果简述：
致真精密仪器AFM对氧化石墨烯(GO)样品的表面形貌和厚度进行表征。如图(a)所示，AFM高度图像中可见基底表面分布有若干不规则的二维片状结构，边界清晰，呈现典型二维层状材料微观形貌特征。沿红色实线提取截面高度轮廓(图(b))，测得片层相对基底的高度差约为1.23nm，结合已有文献报道，可判断属于单层氧化石墨烯(GO)。
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256 × 256 |
应用价值
氧化石墨烯(GO)作为石墨烯的重要衍生物，因其独特的二维片层结构、丰富的含氧官能团及优异的可功能化特性，在多个前沿领域展现出广泛的应用潜力与研究价值:
- 复合材料:表征片层分散状态，优化界面结合与增强效果。
- 能源存储:分析厚度与堆叠结构，调控离子传输通道。
- 生物医学:量化粒径与厚度，评估细胞摄取及安全性。
- 环境治理:观测膜表面缺陷与粗糙度，平衡渗透性与选择性。
- 柔性电子:监测薄膜平整度与均一性，保障器件电学稳定性。
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