微量石墨烯+定向调控+冷轧:铜基复合材料突破强度-导电性权衡难题

这项研究通过精准调控石墨烯取向、控制微量添加量,并结合真空热压与冷轧的协同作用,既利用石墨烯的结构优势强化了铜基材料的力学性能,又通过优化界面结合与晶体取向,最大限度保留了铜的高导电性,成功打破了传统铜基材料的性能权衡。其成果为高性能铜基复合材料的工业化制备提供了可行路径,有望满足下一代电子设备、电力传输等领域对材料的严苛需求,为多功能金属基复合材料的设计提供了重要参考。

近日,北京科技大学蒋波团队与中车工业研究院有限公司裴中正团队合作,通过 “CVD沉积石墨烯+真空热压+定向切割+80%冷轧”工艺,结合 0.0027 vol% 微量石墨烯的垂直取向设计,解决了铜基材料增强强度必降导电性的传统难题。相关成果以“Enabling Synergistic Mechanical Strength and High Electrical Conductivity in Cold-Rolled Graphene/Copper Laminate Composite via Trace Graphene and Controlled Orientation”为题发表于《Journal of Alloys and Compounds》期刊。

背景介绍

铜因优异的导电性和加工性,广泛应用于电力传输、集成电路引线框架等领域,但现代电子设备向小型化、高功率密度发展的过程中,对铜基材料提出了 “高强度+高导电性” 的双重需求,而这两种性能在传统铜基材料中存在固有权衡 —— 添加合金元素强化强度会引入晶格畸变,降低导电性;单纯提升导电性又会牺牲力学性能。石墨烯凭借超高载流子迁移率,被视为理想的铜基复合材料增强相,但此前因石墨烯与铜界面润湿性差、分散不均等问题,难以实现性能突破。

文章亮点

该研究核心亮点基于严谨实验数据的性能突破与工艺创新。

首先,通过卷对卷 CVD 技术在铜箔两侧沉积单层石墨烯,堆叠 2000 层后经 950°C、130 MPa 真空热压制备复合材料,仅含 0.0027 vol% 的微量石墨烯,就实现了 105.78% IACS(水平取向)和 105.86% IACS(垂直取向)的超高导电性,远超传统铜基复合材料。

其次,经 80% 冷轧处理后,水平取向石墨烯 / 铜复合材料(HGCLC-CR80)的抗拉强度从 175 MPa 提升至 317 MPa,屈服强度达 301 MPa,而导电性仅微降至 104.47% IACS,伸长率保持 10.0%。

更关键的是,通过垂直取向石墨烯设计(VGCLC-CR80),在相同石墨烯含量和冷轧条件下,抗拉强度进一步提升至 351 MPa,屈服强度 334 MPa,伸长率提升至 11.4%,导电性仍维持在 104.27% IACS,强度提升的同时几乎无导电性损失。

此外,该工艺具有良好的规模化潜力,制备的块体复合材料尺寸可达 150mm×50mm×100mm,且石墨烯均匀分散于铜基体中,形成了原子级洁净的界面结合。

图文解析

微量石墨烯+定向调控+冷轧:铜基复合材料突破强度-导电性权衡难题

图 1. 采用定向化学气相沉积(CVD)结合后续热压(HP)与冷轧(CR)工艺制备高取向 Gr 分布 Gr/Cu 复合材料的流程示意图。(a)通过 CVD 在原始多晶铜箔两侧沉积 Gr,随后堆叠 2000 层 Gr/Cu/Gr 箔材并进行热压;(b)将复合材料切割为不同取向后进行冷轧;(c、d)水平堆叠和垂直堆叠的层状样品在不同加工阶段的实际形貌;(e)各类表征所用试样的加工示意图。

总结展望

这项研究通过精准调控石墨烯取向、控制微量添加量,并结合真空热压与冷轧的协同作用,既利用石墨烯的结构优势强化了铜基材料的力学性能,又通过优化界面结合与晶体取向,最大限度保留了铜的高导电性,成功打破了传统铜基材料的性能权衡。其成果为高性能铜基复合材料的工业化制备提供了可行路径,有望满足下一代电子设备、电力传输等领域对材料的严苛需求,为多功能金属基复合材料的设计提供了重要参考。

文献信息

Zhongzheng Pei, Chenxuan Liu, Yujie Bai, Yalun Wang, Juncai Liang, Baishan Liu, Bo Jiang, Enabling Synergistic Mechanical Strength and High Electrical Conductivity in Cold-Rolled Graphene/Copper Laminate Composite via Trace Graphene and Controlled Orientation, Journal of Alloys and Compounds, 2025, 185101, ISSN 0925-8388

https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2025.185101.

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