廖建辉

北京大学廖建辉副研究员课题组提出了一种通过调控电击穿（Electric breakdown, EB）过程精确制备单层石墨烯纳米间隙的方法。为进一步验证结构，研究团队在50nm厚Si3N4薄膜窗口上制备器件，并利用低电压透射电子显微镜（ TEM）直接观察电击穿后形成的石墨烯裂隙与边缘形貌。该方法为高产率单分子结及相关固态量子器件的制备提供了更稳定的技术路径。